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    探針式表面輪廓儀(YQJC-EQ-W01-006)
    型號規格:Bruker-Dektak XT
    已預約:374次
    選擇測試內容(預約必選)
    儀器預約
    • 送樣須知
    • 功能介紹
    • 性能參數
    • 案例分析
    DELIVER INFORMATION
    送樣須知

    送樣須知:
    1、各種固態材料,樣品厚度不超過20mm;
    2、最大掃描區域是600×400μm,超過這個區域需要拼接,拼接另外計費,每次拼接會有30%區域重疊。

    FUNCTION INTRODUCTION
    功能介紹

    應用于納米尺度的表面輪廓測量、薄膜厚度測量、表面形貌測量、應力測量和平整度等精密測量,應用于微電子、半導體、太陽能、高亮度LED、觸摸屏、醫療、光學、科學研究和材料科學領域。

    Performance parameter
    性能參數

    1、掃描長度:50μm~55mm;
    2、垂直測量范圍:1mm;
    3、臺階高度重復性:4Å;   
    4、探針壓力:1~15mg;
    5、探針曲率半徑:0.2-25um。

    TEST CASE
    案例分析
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