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    原位X射線光電子能譜儀(In-Situ XPS)(YQJC-EQ-P01-004)
    型號規格:Ulvac-Phi-PHI 5000 Versaprobe
    已預約:432次
    選擇測試內容(預約必選)
    儀器預約
    • 送樣須知
    • 功能介紹
    • 性能參數
    • 案例分析
    DELIVER INFORMATION
    送樣須知

    送樣須知:

    1、元素測試范圍:Li~Cm,H和He無法測試;

    2、樣品含有硫或碘等鹵族元素提前告知,避免污染高真空系統;

    3、一般含有鐵、鈷、鎳、錳成分的樣品,若不提前告知,默認按磁性樣品進行退磁處理后再進樣;

    4、含量低于5%的元素請務必注明。元素分布不均或者質量分數小于2%的元素可能測不出明顯信號,不保證測試會出峰;

    5、預處理尺寸要求:塊狀/片狀/薄膜:長寬厚不超出1cm×1cm×3mm(磁性樣品盡量?。▽K狀樣品或薄膜樣品的測試 面做好標記);粉末樣品小于200目,不少于10mg,量少請用稱量紙包好再裝到管子里寄送。請勿用手觸摸樣品表面,會引入污染。制好樣后請盡快密封,避免其他物質污染。

    FUNCTION INTRODUCTION
    功能介紹

    XPS主要是測定電子的結合能來鑒定樣品表面的化學性質及組成的分析,其特點在光電子來自表面10nm以內,僅帶出表面的化學信息,具有分析區域小、分析深度淺和不破壞樣品的特點,廣泛應用于金屬、無機材料、催化劑、聚合物、涂層材料礦石等各種材料的研究,以及腐蝕、摩擦、潤滑、粘接、催化、包覆、氧化等過程的研究。

    Performance parameter
    性能參數

    1、收集角范圍:±5°;

    2、冷熱樣品臺溫度范圍:-140℃~600℃。

    TEST CASE
    案例分析
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