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    高分辨透射電子顯微鏡(TEM)(YQJC-EQ-W01-004)
    型號規格:FEI Tecnai G2 spirit-FEI Tecnai G2 F30
    已預約:325次
    選擇測試內容(預約必選)
    儀器預約
    • 送樣須知
    • 功能介紹
    • 性能參數
    • 案例分析
    DELIVER INFORMATION
    送樣須知

    送樣須知:

    1、樣品狀態:粉末、液體樣品均可。粉末至少3mg,確保樣品干凈不吸附物質;液體至少0.5mL,不含表面活性劑物質;

    2、樣品成分要求:該說明僅針對材料測試類樣品,生物類樣品與材料類處理方式完全不同。一般對測試樣品有如下幾方面的要求:

    (1)安全性:無毒、無放射性;

    (2)是否含有有機物:有機物在高壓下不穩定,拍攝過程中極易被打散,樣品被打散的同時會污染儀器,如需拍攝,請務必與客服工程師確認。帶有機物的樣品,無法拍攝mapping,請在預約的時候不要選擇此選項;

    (3)磁性:磁性顆粒,易吸附到極靴上,原則上電鏡(SEM和TEM)不拍磁性樣品。但是不同的設備,測試工程師對于不同的樣品處理經驗狀況下,對所拍樣品中磁性強弱的接受度不同,所以在預約時候請務必如實填寫樣品是否含磁及磁性的強弱;

    3、測試厚度小于20nm,須提供樣品TEM和HRTEM圖,分散劑和參考文獻圖;

    4、球差能譜檢出限0.1% at,低于0.1%含量僅供參考;

    5、不耐高溫,易分解,易相變等樣品及需要拍攝特殊晶面的樣品請提前告知客服工程師。

    FUNCTION INTRODUCTION
    功能介紹

    透射電子顯微鏡在材料科學、生物學上應用較多。由于電子易散射或被物體吸收,故穿透力低,樣品的密度、厚度等都會影響到最后的成像質量,必須制備更薄的超薄切片,通常為50~100nm。所以用透射電子顯微鏡觀察時的樣品需要處理得很薄。常用的方法有:超薄切片法、冷凍超薄切片法、冷凍蝕刻法、冷凍斷裂法等。對于液體樣品,通常是掛預處理過的銅網上進行觀察。

    Performance parameter
    性能參數

    1、點分辨率:0.205nm;

    2、線分辨率:0.102nm;

    3、信息分辨率:0.14nm;

    4、STEM-HAADF模式分辨率:0.17nm;

    5、物鏡色差系數:1.4mm;

    6、物鏡球差系數:1.2mm。

    TEST CASE
    案例分析
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